半导体分立器件测试仪之数字源表有一个简单的定义，就是五表合一（电流源、电压源、电流表、电压表、电子负载），也就是源输出+测量一体化，不同品牌及不同型号的源表都符合这个要求，只是差别在于输出范围、测量精度、速度、通道数不同。
从操作功能上说，源表一般都具备恒流输出、恒压输出、电流扫描、电压扫描功能，通过基本功能的设置、组合，源表可以构建复杂的测量测试功能。
源表也可搭配其它仪器设备（开关系统、皮安表或者拉伸设备、温度、磁场控制设备）组成应用更广泛的测试系统（例如：霍尔效应测试系统）。
半导体分立器件测试仪之数字源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大输出电压达300V，Z小测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:
以下是源表的典型应用领域:
纳米材料与器件
– 石墨烯
– 碳纳米管
– 纳米线
– 低功耗纳米结构
半导体结构
– 晶圆
– 薄膜
有机材料与器件
– 电子墨水
– 印刷电子技术
能量效率与照明
– LED/AMOLED
– 光伏/太阳电池
– 电池
分立器件与无源组件
– 双引线: 电阻器、二极管、齐纳二极管、LED、传感器
– 三引线: 小信号双极节型晶体管(BJT)、场效应晶体管 (FET)，等等
材料特性分析
–电阻率
–霍尔效应
更多有关
半导体分立器件测试仪信息请联系一八一四零六六三四七六
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