S型
第三代半导体测试仪在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能，这些测试功能，令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力，而成本更低廉。
S型
第三代半导体测试仪的特性有助于加快和简化实验室/工作台的测试工作：
· 全彩5英寸触摸屏用户界面：全彩显示屏和大屏幕字符易于读取。简洁的图标化菜单结构只需轻轻一触即可快速设置。
· 拓展的测量范围和的低电流测量能力：低电流 (100pA) 和低电压 (300mV)测试范围拓展了低电平测试能力。后面板上拓展的三同轴连接端口不需要昂贵的电缆适配器就能确保低电平测量的准确性。
· 内置快速帮助功能：帮助信息出现在有操作疑问的任何地方，勿需查阅厚重的使用手册。
· 错误和事件日志记录：错误消息和事件日志，帮助用户快速诊断错误，提高工作效率。
· S系列软件，兼容2400和2450，对使用2400和2450搭建的已有测试系统，可以实现替换，而无需修改测试系统软件。
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