- 型号
XLE-1
- 类型
金相显微镜
- 装箱数
见参数
- 适用范围
见参数
- 重量
见参数
- 物镜放大倍数
见参数
- 目镜放大倍数
见参数
- 仪器放大倍数
见参数
用途： XLE-1型 大平台金相检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。金相检测显微镜的特点：1.放大倍数：40倍至400倍；2.超大型载物台 技术参数 1. 机械筒长 160mm 2. 物镜 数值孔径 有效工作距离（mm） 介质 4× 0.10 17.912 干 10× 0.25 6.544 干 20× 0.40 1.05 干 40× 0.65 0.736 干 3.目镜 10× 视场直径(mm) --18 4.放大倍数 40×--400× 5.载物台面积 350mmX255mm 纵向移动范围---200mm 横向移动范围---200mm 6.粗微动调焦范围 25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值0.002mm 7.光源 钨卤素灯6V20W。内藏式连续调光电源 8.物镜转换器 四孔式 (三孔式) 9.目镜筒 三目镜 (双目镜)
