- 加工定制
否
- 型号
XULM/XDL-B
- 类型
金属元素分析仪器
- 测试范围
金属元素
- 测量时间
自己调整
- 测量精度
误差不大
- 电源电压
220V\HZ
- 适用范围
金属元素
FISCHER XULM-XYM镀层厚度测量仪是针对高要求用户设计的,能够测量极精密的样品,如:微形部件或线路板上极微细的表面结构,它的新颖专利X-射线光学镜片,创新的X-射线光学原理,使这部仪器能产生非常小,但高辐射强度的测量点,所以,测量数十微米的面积的结构也变成可能。镀层膜厚仪配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层,FISCHERSCOPE X-RAY XDVM测厚仪,还能测量出范围从元素氯(Z=13)至铀(Z =92)。镀层膜厚仪主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描(指定面积),如:硬盘镀层、细微的线。有极高精度,可编程的XYZ测量台及大移动范围,测量室为长方形内槽设计,深圳金霖公司代理FISCHER华南地区销售和服务,我们能提供准确的仪器满足您的测量需要,其中便携式测厚仪被广泛的应用于涂料、油漆、喷涂、电镀等化工行业以及线路板行业。本公司维修膜厚仪X光管更换 还可为客户测试对比样品 出售/回收二手FISCHER膜厚仪等等今天,在科技飞速发展的时代,对品质的要求也越来越高,菲希尔(fischer)可以达到您的要求,并提高你的产品品质。菲希尔(fischer)将与您携手共进。