模拟型
LK-G5000,LK-G3000,LK-G10,LK-G15,LK-G30,LK-G35,LK-G80,LK-G85.LK-G150,LK-G155,LK-G400,LK-G405,LK-G500
0~50
50K
0.05%
10+/-1mm~250-1000mm
CCD激光位移传感器LK-G系列
超/高精度/长距离
创新的CCD激光位移传感器
LK-G系列一览:
半导体/LCD
检测晶片的位置 硅芯片厚度的不规则性 LED基板检查机的聚焦调整
电子/电气部件
测量PCB板的变形 测量焊料喷嘴的高度 测量板的厚度
OA/媒体
光头的聚焦调整 调整HDD手臂的装配 测量压电驱动器的振动
测量转动盘片的偏转 测量液体密封剂的高度 调整内倾/外倾角
金属
钢板双层送料检出 焊接流程的高度控制 测量钢板的厚度/宽度
塑料/橡胶/薄膜
厚度测量/监控胶片的弯曲 测量薄膜的厚度 测量聚焦酯泡沫的高度
体现高性能的技术:
型号 | LK-G10/G15 | LK-G30/G35 | |||
安装模式 | - | 漫反射 | 镜面反射 | ||
参考距离 | |||||
测量距离1 | ±1mm | ±5mm | ±4.5mm | ||
光源 | 红色半导体激光 | ||||
波长 | 650nm(可见光),2类(FDA) | 650nm(可见光), | |||
输出 | 0.3mW | 4.8mW | |||
(参考距离上的)光点直径 | 约20*500μm(G15) 约Ф20μm(G10) | 约30*850μm(G35) 约Ф30μm(G30) | |||
直线性2 | ±0.03%的F.S.(F.S.= ±1mm) | ±0.05%的F.S.(F.S.= ±5mm) | |||
再现性3 | 0.02μm(0.01μm) | 0.05μm(0.01μm) | |||
采样频率 | 20/50/100/200/500/1000μs(可选择6种级别) | ||||
LED指示器 | 靠近测量中心:绿光 测量范围内:橙光 测量范围外:橙光闪烁 | ||||
温度特性 | 0.01%的F.S./℃(F.S.= ± | 0.01%的F.S./℃(F.S.= ± | |||
材料 | 铝压膜 | ||||
重量(包括电缆) | 约190g | 约280g | |||
环境耐性 | 防护结构 | IP67(IEC60529) | |||
周围亮度 | 白炽灯或荧光灯:10000lux | ||||
周围温度 | 0至 | ||||
相对湿度 | 35至85%,无冷凝 | ||||
振动 | 10至55Hz,多重放大 | ||||
1、此距离是通过测量KEYENCE的标准目标(陶瓷)获得的。
LK-G10/G15:当取样率是20μs时,距离变成+0.37(远端)到
LK-G30/G35:当取样率是20μs时,漫反射的距离变成+1.8(远端)到
成+1.6(远端)到-4.5mm(近端)
2、此距离是是通过标准模式下测量KEYENCE的标准目标(陶瓷)获得的。
3、此距离是在参考距离上通过4096次平均化测量KEYENCE的标准(SUS)获得的。括号内的距离是通过测量
带有16384的目标获得的典型线性度。
型号 | LK-G80/G85 | LK-G150/G155 | ||
安装模式 | 漫反射 | 镜面反射 | 漫反射 | 镜面反射 |
参考距离 | ||||
测量距离1 | ±15mm | ±14mm | ±40mm | ±39mm |
光源 | 红色半导体激光 | |||
波长 | 650nm(可见光), | |||
输出 | 4.8mW | |||
(参考距离上的)光点直径 | 约70*1100μm(G85) 约Ф70μm(G80) | 约120*1700μm(G155) 约Ф120μm(G150) | ||
直线性2 | ±0.05%的F.S.(F.S.= ±15mm) | ±0.05%的F.S.(F.S.= ±40mm) | ||
再现性3 | 0.2μm | 0.5μm | ||
采样频率 | 20/50/100/200/500/1000μs(可选择6种级别) | |||
LED指示器 | 靠近测量中心:绿光 测量范围内:橙光 测量范围外:橙光闪烁 | |||
温度特性 |